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XRF - 日立

XRF是一种无损分析技术，用于确定材料的元素组成

  • 名称：x射线荧光分析
  • 厂商：日立
  • 型号：X-MET 8000 Optimum Geo
  • 分析方法说明：
    X 射线荧光 (XRF) 是一种用于确定材料元素组成的无损分析技术。当样品暴露于高能 X 射线时，它会发出二次（荧光）X 射线。这些荧光 X 射线的能量和强度是样品中存在元素的特征，可实现精确的元素分析。 X-MET 8000 Optimum Geo 是一款便携式 XRF 分析仪，专为现场和实验室应用而设计，特别是地质、采矿、材料和环境分析。该手持式设备可提供快速、准确且可靠的元素分析，非常适合现场测量。 X-MET 8000 Optimum Geo 的主要功能包括： 高精度：配备先进的硅漂移探测器 (SDD)，可在多种元素中提供卓越的灵敏度和精确的结果。便携耐用：轻巧坚固，专为承受恶劣环境和现场条件而设计。速效性：提供即时分析，减少样品制备的需要并加速决策过程。 X-MET 8000 Optimum Geo 非常适合地质调查、采矿、土壤测试和环境分析，可实时提供快速、准确的元素成分数据。
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